Examples

• 38.3.4.5 Test 5: External short circuit
  4-5 الاختبار 5: الدائرة القصيرة الخارجية
• B. 2. c. For testing microwave integrated circuits controlled by 3.A.1.b.2. ;
  باء - 2 - ج لاختبار الدوائر المتكاملة ذات الموجات الدقيقة المشمولة بالبند 3 - ألف - 1 - ب - 2؛
• Integrated circuit test equipment, microwave Conventional Section: p. 202, 3.B.2.c
  طول موجي يزيد على 1400 نانو متر مع توافر أي مما يلي:
• b. For testing integrated circuits capable of performing functional (truth table) testing at a pattern rate of more than 333 MHz;
  ب - لاختبار الدوائر المتكاملة القادرة على أداء اختبار وظيفي (جدول الحقيقة) بمعدل نمطي يزيد على 333 ميغاهرتز؛
• c. For testing microwave integrated circuits for which review is required by 3.A.1.b.2. ;
  مولدات النبضات ذات السرعات العالية