Ellipsometrie ist eine wichtige Methode in der Materialforschung.

Mit Hilfe der Ellipsometrie kann die Dicke von dünnen Schichten bestimmt werden.

Die Ellipsometrie ist ein nicht-invasives optisches Messverfahren.

Die Theorie der Ellipsometrie basiert auf der Polarisation des Lichts.

Die Geräte für Ellipsometrie sind oft komplex und erfordern genaues Arbeiten.